CS-9310PC 双波长飞点薄层扫描仪由日本岛津公司生产，可对天然产物体位及有机物质进行定量分析。技术指标 ：波长范围： 200-700nm；测定范围： 200-650nm；测定系统: 反射吸收法；透射吸收法；反射荧光法；跌取单波长式双波长样品扫描；锯齿或线形扫描；锯齿摆幅； 1-16nm，Y方向步距：0.01，0.02，0.04，0.10，0.20mm；扫描范围： X:5-195mm,Y 2-185mm; 光源：紫外区：氚灯；可见光区：碘钨灯；荧光测定： 汞灯（特殊附件）